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0 索取号:R318.51/E20091 作者: 出版社:Bellingham, Wash. : SPIE, c2007.
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0 索取号:Q242-532/E20071 作者: 出版社:Bellingham, Wash. : SPIE, c2006.
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0 索取号:TB303-532/E20071 作者: 出版社:Bellingham, Wash. : SPIE, c2006.
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0 索取号:TB383-532/E20071 作者: 出版社:Bellingham, Wash. : SPIE, c2006.
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0 索取号:TN911.73-532/E20071 作者: 出版社:Bellingham, Wash. : SPIE, c2006.
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0 索取号:F133.30/E20071 作者:Masina、 Pietro P.、 出版社:London ; New York : Routledge, 2006.
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0 索取号:D634.371.2/E200811 作者:Lee、 Anthony W.、 1960-、 出版社:Berkeley : University of California Press, c2001.
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0 索取号: 作者:Compcon (22nd : 1981 : San Francisco、 Calif.)、IEEE Computer Society.、 出版社:New York, NY (345 E. 47th St., New York 10017) : Institute of Electrical and Electronics Engineers ; Los Alamitos, CA (10662 Los Vaqueros Circle
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0 索取号:O413.1/E904.2-2 作者:Sakurai、 J. J. (Jun John)、 1933-1982.、Tuan、 San Fu、 1932-、 出版社:北京 : 世界图书出版公司, 2006.
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0 索取号:K712.8/E20065 作者:Yung、 Judy.、 出版社:Berkeley : University of California Press, c1999.
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0 索取号:R445-532/E20061/2006 作者: 出版社:Bellingham, Wash. : SPIE, c2006.
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0 索取号:R318.51-532/E20061/2006 作者: 出版社:Bellingham, Wash., USA : SPIE, c2006.
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0 索取号:R318.51-532/E20031/2006 作者: 出版社:Bellingham, Wash. : SPIE, c2006.
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0 索取号:K837.125.42/E20053 作者:Bennett、 Milly、 1897-1960.、Grunfeld、 A. Tom.、 出版社:Beijing : Foreign Languages press, 2004.
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0 索取号:TP333-53/E20051/12 作者:IEEE International Workshop on Memory Technology、 Design and Testing (12th : 2004 : San Jose、 Calif.)、Rajsuman、 Rochit.、Wik、 T. (Thomas)、IEEE Computer Society.、IEEE Computer Society. Technical Committee on VLSI.、IEEE Computer Society. Technical Council on Test Technology.、IEEE Solid-State Circuits Society.、 出版社:Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society, c2004.
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0 索取号:TN204-532/E20052 作者: 出版社:Bellingham, Wash., USA : SPIE, c2004.
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